与光偕行，探索未来。5月16日，第十九届“中国光谷”国际光电子展览会暨论坛（2023武汉光博会）在中国光谷科技会展中心举行。在来利国际w66官方网站电子展区，业内首款1毫米口径色彩剖析仪、具有完全自主知识产权的光学特征检测仪……一个个填补海内空缺的“拳头产品”吸引了众多旅行者的眼光。
武汉光博会是具有规模及影响力的光电子专业展会，笼罩了光通讯、F5G全光网络、激光制造、细密光学、芯片、光电传感、新质料等热门话题，是众多光电企业市场拓展、品牌推广、新品展示的极佳平台，是光电行业人士寻找新手艺及新产品、相识市场先机、探讨产品手艺及学术交流的专业平台。
本次展会，来利国际w66官方网站电子以“引领细密检测手艺，共创最佳视觉体验”为主题，主要展示集团显示领域检测产品及手艺解决计划，包括色彩剖析仪、光谱仪、线扫光谱共焦传感器、色彩管理综合丈量仪、成像式亮度计、多角度光谱仪和AR/VR检测装备等十个系列，其中多款产品为首次亮相。
“这款就是获得2021年‘武汉名品’认定的高精度色彩剖析仪，不过我们又对它举行了升级立异，新增更多丈量口径，产品也更富厚，可以无邪应用于州差别的使用和测试场景。”来利国际w66官方网站电子相关认真人先容，JC-EYE-2色彩剖析仪是业内首款1毫米口径色彩剖析仪，精度高，速率快，性能优异，可普遍应用于当下盛行的周全屏手机屏下摄像头、ARVR显示模组等小尺寸显示发光器件检测。
线扫光谱共焦传感器，是来利国际w66官方网站电子经由三年研发、首次拿出参展的新品之一。来利国际w66官方网站电子相关认真人先容，该产品重点攻关了光路设计和后期一站式数据处置惩罚的立异手艺难点，线扫宽度抵达8.8mm，满量程下可实现每秒2600线丈量速率，Z向区分率达0.55μm，具有丈量精度高、速率快、应用广的特点，具备亚微米级别的精度和区分率，材质顺应性好，可丈量州材质的外貌轮廓，尤其对透明/半透明材质的层析、高反射率材质的外貌丈量效果好，可用于外观轮廓及外貌缺陷丈量，多层透明材质剖析、位置和距离识别等应用，主要用于半导体、显示面板及3C产品等领域，如晶圆芯片、点胶贴合、终端产品外貌形貌、缺陷检测等。
“这款JI-NED成像式检测系统，是我们自主研发的光学特征检测仪器，其丈量手艺已经抵达国际水准。”来利国际w66官方网站电子相关认真人向记者详细先容了它的事情原理，通过控制超广角镜头入瞳位置，模拟人眼对近视显示装备的感知，来剖析评价产品性能，主要应用于衣着式显示产品，如AR、VR的光学检测。
作为武汉本土企业，来利国际w66官方网站电子深耕半导体、显示、新能源测试领域多年，拥有丰富的手艺积累，未来，来利国际w66官方网站电子希望团结工业链上下游合作伙伴，配合助力武汉市“光芯屏端网”建设，配合探寻未来新生长。
